OEPMEls documents de patents són una font valuosa d’informació tecnològica ja que constitueixen el mitjà de difusió dels invents, a canvi de què els sol·licitants disposin un dret d’explotació exclusiva durant un període de temps. L’Observatori de la Recerca (OR-IEC) ha realitzat una cerca exhaustiva de les sol·licituds de patents catalanes, valencianes i balears presentades a l’Oficina Española de Patentes y Marcas (OEPM) en el període 2000-2008. En l’entrada publicada el 22 de desembre de 2011, s’analitzaven els resultats obtinguts per territoris i anys, tipus de sol·licitants i codis de classificació. Tot seguit s’estudia la nacionalitat de les patents citades per les invencions catalanes i els termes més freqüents en els títols.

En primer lloc, les dades sobre patents citades s’han extret de l’Informe de l’Estat de la Tècnica (IET) de cada invenció. L’IET és redactat pels examinadors de l’OEPM després de rebre la sol·licitud. L’objectiu és determinar quines publicacions estan relacionades amb l’invent patentat i fixar si afecten a la seva novetat i activitat inventiva. Els documents citats a l’IET són principalment patents però també poden ser articles científics, informes tècnics, monografies, tesis doctorals, etc.

L’OR-IEC ha analitzat les patents que estan referenciades a l’IET de les patents sol·licitades des dels territoris de llengua i cultura catalanes a l’OEPM en el període 2000-2008. Tal i com s’observa en el gràfic, hi predominen clarament les patents dels Estats Units d’Amèrica (EUA), seguides de les de l’Estat Espanyol i de les patents d’abast mundial i europeu. També hi estan representades altres potències tecnològiques consolidades però no hi figuren països emergents. En aquest darrer sentit, segons les dades de l’any 2010 de la World Intellectual Property Organization (WIPO), la Xina i la República de Corea representaven, respectivament, el 7,5% i el 5,9% de les sol·licituds de patents internacionals.

Patents IET

En segon lloc, a partir dels títols de les patents catalanes, valencianes i balears presentades a l’OEPM s’ha generat un núvol d’etiquetes que reflecteix els termes més habituals (la mida representa el nombre d’aparicions).

Patents OEPM

Per a més informació, podeu consultar l’apartat de Patents i el servei de Cerca del portal web MERIDIÀ, així com les altres entrades sobre patents d’aquest blog.