OEPM

L’Oficina Española de Patentes y Marcas (OEPM) ha presentat la base de dades gratuïta OEPMESTAD. De forma interactiva, OEPMESTAD permet consultar les dades estadístiques de les diferents modalitats de propietat industrial (patents, models d’utilitat, marques i noms comercials, dissenys industrials, etc.). La finalitat és oferir una font d’anàlisis estadístiques i de tendències tecnològiques per a professionals, investigadors i públic en general.

Aquesta aplicació substitueix les publicacions anuals de l’OEPM sobre les estadístiques de propietat industrial. L’actualització d’OEPMESTAD és anual i, segons l’estadística generada, pot abraçar un període entre els anys 1987 i 2013. A més, permet crear i descarregar gràfics de les estadístiques creades.

Per a més informació, podeu consultar la base de dades OEPMESTAD.